High-speed Position Tracking for Nanohandling inside Scanning Electron Microscopes - OFFIS

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High-speed Position Tracking for Nanohandling inside Scanning Electron Microscopes

High-speed Position Tracking for Nanohandling inside Scanning Electron Microscopes

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Alle Autoren

Jasper, Daniel

Erscheinungsdatum

06 / 2010

Publikationstyp

proceedings

Veranstalter der Konferenz

IEEE

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