Depth-Detection for Manipulation Tasks in a Scanning Electron Microscope - OFFIS

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Depth-Detection for Manipulation Tasks in a Scanning Electron Microscope

Depth-Detection for Manipulation Tasks in a Scanning Electron Microscope

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Alle Autoren

Jähnisch and M. and Schiffner, M.

Buchtitel

8th International IFAC Symposium on Robot Control (SYROCO)

Erscheinungsdatum

09 / 2006

ISBN / ISSN

-

Publikationstyp

inproceedings

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