PRODUKTIV+ Referenzsystem zur Messung der Produktivität eim Entwurf nanoelektronischer Systeme (sorry - only available in German)

Goal

In dem Projekt PRODUKTIV+ werden durch Messung, Modellierung und Auswertung von Kenngrößen, die aus dem Entwurfsprozess integrierter Schaltungen entnommen werden, Verfahren entwickelt, die die Bewertung der Produktivität des Entwicklungsprozesses über die Abbildung auf betriebswirtschaftliche Kennzahlensysteme erlauben. Die Gruppe Prozessanalyse und -optimierung bearbeitet Unteraufträge bei allen vier Industriepartnern.

 

Persons
Publications
Project Control System to Track and Optimize Chip Design Projects

Häusler, Stefan and Sebecke,Christian and Blaschke, Jana and Rosenstiel, Wolfgang and Hahn, Axel; 10 / 2009

Chip Design Process Optimization Based on Design Quality Assessment

Häusler, Stefan and Sebeke, Christian, Blaschke, Jana and Rosenstiel Wolfgang and Hahn, Axel; IAENG Transactions on Engineering Technologies: Volume 4: Special Edition of the World Congress on Engineering and Comuter Science 2009; 007 / 2010

Partners
AMD Saxony LLC & Co. KG
www.amd.com
Cadence Design Systems Inc.
www.cadence.com
Infineon Technologies AG
www.infineon.com

Duration

Start: 30.09.2005
End: 30.12.2008