Project Control System to Track and Optimize Chip Design Projects

BIB
Häusler, Stefan and Sebecke,Christian and Blaschke, Jana and Rosenstiel, Wolfgang and Hahn, Axel
10 / 2009
inproceedings
IAENG
PRODUKTIV+
Referenzsystem zur Messung der Produktivität eim Entwurf nanoelektronischer Systeme (sorry - only available in German)