Publikationen

Titel

NanoBits: Exchangeable and customizable scanning probe tips as a versatile tool for nanoscale applications

Publikationsart

Tagungsbeitrag

Alle Autoren

Eichhorn, V.; Jasper, D.; Krohs, F.; Bøggild, P.; Fahlbusch, S.; Oliva, M.; Krause, O.; Haschke, H.; Fatikow, S.

Erscheinungsdatum

2010

Titel der Konferenz

7th International Workshop on Microfactories (IWMF 2010), Daejeon, Korea