Publikationen
Titel
Hybrid FIB/SEM/SPM System Used for In-situ Analysis of Milling Process on Metallic Thin Films
Publikationsart
Tagungsbeitrag
Alle Autoren
Král, Z. and Urbánek, M. and Mick, U. and Eichhorn, V. and Fatikow, S. and Petrenec, M. and Jiruse, J. and Kolíbalová, E. and Zadrazil, M.
Buchtitel
Proceedings of the 3M-NANO Conference
Erscheinungsdatum
2011
Adresse des Verlags
Changchun, China
