RELY

Design for RELIABILITY of SoCs for Applications like Transportation, Medical, and Industrial Automation

Ziele

Das Catrene/BMBF Projekt RELY (Förderkennzeichen 01M3091) entwickelt neue Methoden zum Entwurf von zuverlässigen eingebetteten Systemen für Anwendungen wie Transport, Medizin und Automatisierung. Die OFFIS Gruppe Analyse nanometrischer ICs erforscht hier in Kooperation mit Infineon und der TU München einen der relevantesten Alterungseffekte moderner Transistortechnologien - den Bias Temperature Instability Effekt. Hierbei verschlechtert sich über Betriebszeiten von Jahren hinweg die Leistungsfähigkeit der Transistoren. In herkömmlichen eingebetteten Systemen macht sich dieser Effekt zunächst nicht bemerkbar, bis er schließlich zu einem fast gleichzeitigen Ausfall vieler Teilsysteme kommt. Dies hat je nach Einsatz des Systems unterschiedliche Auswirkungen: Während für Kommunikationsgeräte eine Lebenszeit von ein paar Jahren durchaus akzeptabel ist, würde ein Einsatz dieser neuen Technologien im Automobil- und Flugzeugbereich zu einem nahezu garantierten Ausfall und somit zu erhöhten Wartungskosten durch vorbeugenden Austausch der Systeme führen. Für implantierte Systeme, für die eine Wartung über viele Jahre vermieden werden muss, ist der Einsatz neuester Technologien ohne neue Entwurfstechniken nahezu undenkbar.