Publikationen

Titel

Logisch-statistische Simulation digitaler Systeme mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und Alterungseffekten

Publikationsart

Tagungsbeitrag

Alle Autoren

Helms, Domenik; Hylla, Kai; Nebel, Wolfgang

Zusammenfassung

Wir präsentieren eine statistische Beschreibung digitaler Systeme, die aufgrund einer vorhergehenden taktgenauen Simulation des Systems dessen Verhalten über den gesamten Lebenszyklus des Systems hinweg vorhersagt. Der Simulator berücksichtigt dabei die Wechselwirkungen zwischen der Verlustleistung (statisch und dynamisch), der Temperatur- und Spanungsverteilung sowie verschiedener Alterungseffekte. Da der Einfluss globaler Fertigungs- schwankungen auf diese Wechselwirkungen ebenso wie auf die Systemgeschwindigkeit berücksichtigt werden kann, wird eine Vorhersage des mittleren Verhaltens vieler Systeme hinsichtlich funktionales Versagens und parametrischer Fehler zur Produktion und über die Lebensspanne des Systems hinweg möglich.

Sprache

deutsch

Erscheinungsdatum

2009

Titel der Konferenz

GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 2009 (ZuE09)